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Navegación por Autor Vellvehi Hernández, Miquel

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DerechosPreviewFecha Public.TítuloAutor(es)Tipo
closedAccess2008A heterodyne method for the thermal observation of the electrical behavior of high-frequency integrated circuitsAltet, J.; Aldrete Vidrio, E.; Mateo, D.; Perpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Millán, José; Salhi, A.; Grauby, Stéphane; Claeys, W.; Dilhaire, S.artículo
openAccessenergies-10-00256-v2.pdf.jpg20-feb-2017A New Vertical JFET Power Device for Harsh Radiation EnvironmentsFernández-Martínez, Pablo; Flores, David; Hidalgo, Salvador ; Jordà, Xavier; Perpiñá Giribet, Xavier; Quirion, David; Ré, Lucía; Ullán Comes, Miguel ; Vellvehi Hernández, Miquelartículo
openAccessARTICULOS13790[1].pdf.jpgmay-2010Analysis of Excess Carrier Concentration Control in Fast-Recovery High Power Bipolar Diodes at Low Current DensitiesPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Vobecky, J.; Mestres, Narcís CSIC ORCID artículo
openAccessES2769265T3.pdf.jpg25-jul-2020Conjunto de máscaras metálicas auto alineadas para depositar, de modo selectivo, capas finas sobre dispositivos y substratos microelectrónicos y método de empleoJordà, Xavier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; Sánchez, David CSIC ORCID ; Godignon, Philippetraducción de patente
openAccessARTICULOS13057[1].pdf.jpg2005Development of an analog processing circuit for IR-radiation power and noncontact position measurementsPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Millán, Joséartículo
openAccessaelm.202100380.pdf.jpg14-ago-2021Direct Visualization of Anti-Ferroelectric Switching Dynamics via Electrocaloric ImagingVales-Castro, Pablo CSIC ORCID; Vellvehi Hernández, Miquel; Perpiñá Giribet, Xavier; Caicedo Jose Manuel; Jordà, Xavier; Faye, Romain; Roleder, Krystian; Kajewski, Dariusz; Pérez-Tomás, Amador CSIC ORCID; Defay, Emmanuel; Catalán, Gustau CSIC ORCIDartículo
openAccessARTICULOS13282[1].pdf.jpgdic-2004Heat power source controller circuitMadrid, Francesc CSIC; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Perpiñà, X.; Godignon, Philippeartículo
openAccessARTICULOS315585[1].pdf.jpg2011Hot spot analysis in integrated circuit substrates by laser mirage effectPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Altet, J.artículo
closedAccessoct-2008Hot-Spot Detection in Integrated Circuits by Substrate Heat-Flux SensingPerpiñà, X.; Altet, J.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Millán, José; Mestres, Narcís CSIC ORCID artículo
closedAccess2004Internal infrared laser deflection system: a tool for power device characterizationPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Mestres, Narcís CSIC ORCID ; Vellvehi Hernández, Miquel; Godignon, Philippe; Millán, José; Kiedrowski, H. vonartículo
openAccessWO2007122281A1.pdf.jpg1-nov-2007Interruptor de potencia bidireccional, inteligente y modular, método y realizaciónJordà, Xavier; Gálvez Sánchez, José Luis CSIC ORCID; Vellvehi Hernández, Miquel; Godignon, Philippe; José Prieto, Miguel Ángel; Martín Ramos, Juan Antoniopatente
openAccess2317731_B1.pdf.jpg4-feb-2010Interruptor de potencia bidireccional, inteligente y modular. Método y realizaciónJordà, Xavier; Gálvez Sánchez, José Luis CSIC ORCID; Vellvehi Hernández, Miquel; Godignon, Philippe; José Prieto, Miguel Ángel; Martín Ramos, Juan Antoniopatente
closedAccessene-2009Laser beam deflection-based perimeter scanning of integrated circuits for local overheating locationPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Altet, J.; Vellvehi Hernández, Miquel; Mestres, Narcís CSIC ORCID artículo
closedAccessjul-2011Long-Term Reliability of Railway Power Inverters Cooled by Heat-Pipe-Based SystemsPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Rebollo, J.; Mermet-Guyennet, M.artículo
closedAccessjul-2011Low-cost and versatile thermal test chip for power assemblies assessment and thermometric calibration purposesJordà, Xavier; Perpiñá Giribet, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Madrid, Francesc CSIC; Flores, David; Hidalgo, Salvador ; Millán, Joséartículo
closedAccessnov-2010Low-cost trench isolation technique for reverse blocking IGBT using boron nitride doping wafersVellvehi Hernández, Miquel; Gálvez Sánchez, José Luis CSIC ORCID; Perpiñá Giribet, Xavier; Jordà, Xavier; Godignon, Philippe; Millán, Joséartículo
openAccessWO2009115630A1.pdf.jpg24-sep-2009Method for producing RB-IGBT devicesVellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xavier; Gálvez Sánchez, José Luis CSIC ORCID; Godignon, Philippe; Perpiñá Giribet, Xavierpatente
openAccessWO2016110607A1.pdf.jpg14-jul-2016Method for the functional analysis of wirelessly fed semiconductorsLeón Cerro, Javier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xaviersolicitud de patente
openAccessWO2023002079A1.pdf.jpg26-ene-2023Method for the quantitative measurement of temperatureFerrer Falces, Conrad; Perpiñá, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xavier; Aviñó Salvadó, Oriol CSIC ORCID solicitud de patente
openAccessES2374774A1.pdf.jpg22-feb-2012Método de fabricación de dispositivos RB-IGBTVellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xavier; Gálvez Sánchez, José Luis CSIC ORCID; Godignon, Philippe; Perpiñá Giribet, Xaviersolicitud de patente
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