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Navegación por Autor Santafé, Pablo

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DerechosPreviewFecha Public.TítuloAutor(es)Tipo
openAccess21-jun-2021A facility for measuring the BSSRDFSantafé, Pablo CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Tejedor-Sierra, Néstor CSIC; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVNcomunicación de congreso
openAccess30-jun-2021Caracterización radiométrica de una cámara CMOS para medidas de reflectancia de materiales translúcidosSantafé, Pablo CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN actas de congreso
openAccess13-jun-2022Color Variation in Translucent MaterialsSantafé, Pablo CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN comunicación de congreso
openAccess7-oct-2022Comparison of Primary Facilities for Traceable BSSRDF MeasurementsSantafé, Pablo CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN comunicación de congreso
openAccess13-jun-2022Development of a bidirectional reflectance scale in the near infrared spectral rangeFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Santafé, Pablo CSIC ORCID; Tejedor-Sierra, Néstor CSICcomunicación de congreso
openAccess29-jun-2022Estudio de la variación del color por efecto del scattering en volumen en materiales translúcidosSantafé, Pablo CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN comunicación de congreso
openAccess25-feb-2022Extensión de la escala de BRDF al infrarrojo cercano.Tejedor-Sierra, Néstor CSIC; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Santafé, Pablo CSIC ORCIDpóster de congreso
openAccessFundamental scattering quantities.pdf.jpg22-dic-2020Fundamental scattering quantities for the determination of reflectance and transmittanceFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Frisvad, J.R.; Simonot, L.; Santafé, Pablo CSIC ORCID; Schirmacher, A.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Hebert, M.artículo
openAccess17-nov-2020Gonio Espectrofotómetro Español (GEFE)Santafé, Pablo CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Tejedor-Sierra, Néstor CSIC; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVNcomunicación de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg22-ene-2021Gonio-Espectrofotómetro para la medida de la BRDF y la BSSRDFTejedor-Sierra, Néstor CSIC; Santafé, Pablo CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN comunicación de congreso
openAccessao_Basic_et_al_2023.pdf.jpg1-may-2023Intercomparison of bidirectional reflectance distribution function measurements at in- and out-of-plane geometriesBasic, N.; Molloy, E.; Koo, A.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Santafé, Pablo CSIC ORCID; Gevaux, L.; Porrovecchio, G.; Schirmacher, A.; Šmíd, M.; Blattner, P.; Hauer, K.-O.; Quast, T.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Obein, G.artículo
openAccessMEDIDA DE LA APARIENCIA.pdf.jpgdic-2021Medida de la aparienciaFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Huertas, Rafael; Perales, Esther; Huraibat, Khalil; Santafé, Pablo CSIC ORCIDartículo
openAccessMedida_y_transferencia_de_la_unidad_de_BSSRDF.pdf.jpg8-oct-2020Medida y transferencia de la unidad de BSSRDFSantafé, Pablo CSIC ORCIDtesis de maestría
openAccessoe_Santafé_et_al_2023_erratum.pdf.jpg18-dic-2023Primary facility for traceable measurement of BSSRDF: erratumSantafé, Pablo CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Tejedor-Sierra, Néstor CSIC; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN corrigenda
openAccessPrimary facility for traceable measurement of.pdf.jpg5-oct-2021Primary facility for traceable measurement of the BSSRDFSantafé, Pablo CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Tejedor-Sierra, Néstor CSIC; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
openAccessRealización de una escala de reflectancia bidireccional con componente de scattering sub-superficial en el rango visible –e-medida (1).pdf.jpgmay-2023Realización de una escala de reflectancia bidireccional con componente de scattering sub-superficial en el rango visibleSantafé, Pablo CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Tejedor-Sierra, Néstor CSIC; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
openAccess26-sep-2022Realización de una escala de reflectancia bidireccional con componente de scattering sub-superficial en el rango visibleSantafé, Pablo CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Tejedor-Sierra, Néstor CSIC; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN comunicación de congreso
openAccess26-sep-2022Realización de una escala de reflectancia bidireccional en infrarrojo cercanoTejedor-Sierra, Néstor CSIC; Santafé, Pablo CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN comunicación de congreso
openAccess27-sep-2022Tecnologías Cuánticas para FotometríaCampos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Tejedor-Sierra, Néstor CSIC; Santafé, Pablo CSIC ORCIDcomunicación de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg20-ene-2021Traceable Measurement of BSSRDFSantafé, Pablo CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Tejedor-Sierra, Néstor CSIC; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVNcomunicación de congreso
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