Firma en Digital.CSIC (*)
Campos Acosta, Joaquín
 
Centro o Instituto
CSIC - Instituto de Óptica Daza de Valdés (IO)
 
Departamento
Imágenes, Visión e Instrumentación Óptica
 
Categoría Profesional
Cientifico Titular
 
Especialización
Medida de radiación óptica
 
Email
joaquin.campos@csic.es
 
 
WoS ResearcherID - Publons
 
Scopus AuthorID
 

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RightsPreviewIssue DateTitleAuthor(s)Type
1openAccessFerrero.pdf.jpg2013A single analytical model for sparkle and graininess patterns in texture of effect coatingsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Rabal, A. M.; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCIDartículo
2openAccessAccounting for polarization–related.pdf.jpg13-Jul-2020Accounting for polarization-related effects in the measurement of the bidirectional reflectance distribution functionCalderón, A.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
3openAccesspresent capabilities.pdf.jpg5-Nov-2020An insight into the present capabilities of national metrology institutes for measuring sparkleFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Basic, N.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pastuschek, M.; Perales, E.; Porrovecchio, G.; Šmid, M.; Schirmacher, A.; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Martínez-Verdú, F.M.artículo
4openAccessAngular and spectral radiant.pdf.jpg2012Angular and spectral radiant intensity distribution of high brightness white LEDsVillamarín, A.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Rabal, A.; Hernanz, María Luisa CSIC; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Corróns, Antonio CSICartículo
5closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2003Anomalous non-linear behaviour of InGaAs photodiodes with overfilled illuminationCorredera, Pedro CSIC ORCID; Hernanz, María Luisa CSIC; González Herráez, Miguel; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
6openAccess2006Apparent violation of the radiant exposure reciprocity law in interline CCDsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCIDartículo
7closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2012Automatic gonio-spectrophotometer for the absolute measurement of the spectral BRDF at in-out-of-plane and retroreflection geometriesRabal, Ana M.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Fontecha, J. L.; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Rubiño, A. M.; Corróns, Antonio CSICartículo
8closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2014Bidirectional reflectance distribution function of diffuse reflectance standards around the retro-reflection directionRabal, Ana M.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Hernanz, María Luisa CSICartículo
9openAccessV3_Calibrating the elements of a multispectral imaging system.pdf.jpgMay-2009Calibrating the elements of a multispectral imaging systemLópez-Álvarez, Miguel A.; Hernández-Andrés, Javier; Romero, Javier; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCIDartículo
10openAccess2009_SPIE_7386_1.pdf.jpg2009Characterization of the time-frequency parameters inherent in the radiation of semiconductor heterolasers using interferometric techniqueShcherbakov, Alexandre S.; Moreno Zarate, Pedro; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Il'n, Yurij V.; Tarasov, Il'yaartículo
11openAccessaccesoRestringido.pdf.jpg14-Sep-2016Color characterization of coatings with diffraction pigmentsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Bernad, Berta CSIC; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Perales, E.; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Martínez-Verdú, F.M.artículo
12closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2014Color representation and interpretation of special effect coatingsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Perales, E.; Rabal, Ana M.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Martínez-Verdú, F.M.; Chorro, Elizabet; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCIDartículo
13openAccess87.pdf.jpg15-Oct-2004Comparación de Instrumentos de Medida del ColorCampos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Rubiño López, M.; Castillo Rubí, F. J.; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCIDartículo
14openAccessIntercomparisonBRDF6.pdf.jpg14-Jun-2016Consistency analysis of multidimensional gonio-spectrophotometric measurements in interlaboratory comparisonsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Bernad, Berta CSIC; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Hernanz, María Luisa CSIC; Martínez-Verdú, Francsico M.; Höpe, Andreasartículo
15openAccessCustomizing plasmonic.pdf.jpg9-Jun-2017Customizing plasmonic diffraction patterns by laser interferencePeláez, Ramón J. CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Skeren, M.; Bernard, Berta; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
16openAccessoe-26-23-30116.pdf.jpg1-Nov-2018Definition of a measurement scale of graininess from reflectance and visual measurementsFerrero, Alejandro CSIC ORCID; Velázquez, J.L. CSIC ORCID CVN; Perales, E.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Martínez Verdú, Francisco M.artículo
17openAccess225.pdf.jpg2006Desarrollo de un nuevo patrón de luminancia en el Instituto de Física Aplicada (CSIC)Fontecha, Jose Luis; Corróns, Antonio CSIC; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCIDartículo
18openAccessCampos.pdf.jpg1987Description of precision colorimeterCampos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Corróns, Antonio CSICartículo
19closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2010Determining the time-frequency parameters of low-power bright picosecond optical pulses by using the interferometric techniqueShcherbakov, Alexandre S.; Muñoz Zurita, Ana Luz; Kosarsky, Alexey Yu; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN artículo
20openAccessDeviation of white diffuse.pdf.jpg9-Aug-2019Deviation of white diffuse reflectance standards from perfect reflecting diffuser at visible and near-infrared spectral rangesBernad, Berta CSIC; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Strothkämper, C.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Quast, T.; Hauer, K.O.; Schirmacher, A.artículo