Firma en Digital.CSIC (*):
Campos Acosta, Joaquín
 
Centro o Instituto:
CSIC - Instituto de Óptica Daza de Valdés (IO)
 
Departamento:
Imágenes, Visión e Instrumentación Óptica
 
Categoría Profesional:
Cientifico Titular
 
Especialización:
Medida de radiación óptica
 
Email:
joaquin.campos@csic.es
 
 
WoS ResearcherID - Publons:
 
Scopus AuthorID:
 

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RightsPreviewIssue DateTitleAuthor(s)Type
1openAccessFerrero.pdf.jpg2013A single analytical model for sparkle and graininess patterns in texture of effect coatingsFerrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín  ; Rabal, A. M.; Pons Aglio, Alicia artículo
2openAccessAccounting for polarization–related.pdf.jpg13-Jul-2020Accounting for polarization-related effects in the measurement of the bidirectional reflectance distribution functionCalderón, A.; Ferrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín  artículo
3openAccesspresent capabilities.pdf.jpg5-Nov-2020An insight into the present capabilities of national metrology institutes for measuring sparkleFerrero, Alejandro ; Basic, N.; Campos Acosta, Joaquín  ; Pastuschek, M.; Perales, E.; Porrovecchio, G.; Šmid, M.; Schirmacher, A.; Velázquez, J.L. ; Martínez-Verdú, F.M.artículo
4closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2003Anomalous non-linear behaviour of InGaAs photodiodes with overfilled illuminationCorredera, Pedro ; Hernanz, María Luisa ; González Herráez, Miguel; Campos Acosta, Joaquín  artículo
5openAccess2006Apparent violation of the radiant exposure reciprocity law in interline CCDsFerrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín  ; Pons Aglio, Alicia artículo
6closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2012Automatic gonio-spectrophotometer for the absolute measurement of the spectral BRDF at in-out-of-plane and retroreflection geometriesRabal, Ana M.; Ferrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín  ; Fontecha, J. L.; Pons Aglio, Alicia ; Rubiño, A. M.; Corróns, Antonio artículo
7closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2014Bidirectional reflectance distribution function of diffuse reflectance standards around the retro-reflection directionRabal, Ana M.; Ferrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín  ; Pons Aglio, Alicia ; Hernanz, María Luisa artículo
8openAccessV3_Calibrating the elements of a multispectral imaging system.pdf.jpgMay-2009Calibrating the elements of a multispectral imaging systemLópez-Álvarez, Miguel A.; Hernández-Andrés, Javier; Romero, Javier; Campos Acosta, Joaquín  ; Pons Aglio, Alicia artículo
9openAccess2009_SPIE_7386_1.pdf.jpg2009Characterization of the time-frequency parameters inherent in the radiation of semiconductor heterolasers using interferometric techniqueShcherbakov, Alexandre S.; Moreno Zarate, Pedro; Campos Acosta, Joaquín  ; Il'n, Yurij V.; Tarasov, Il'yaartículo
10openAccessaccesoRestringido.pdf.jpg14-Sep-2016Color characterization of coatings with diffraction pigmentsFerrero, Alejandro ; Bernad, Berta ; Campos Acosta, Joaquín  ; Perales, E.; Velázquez, J.L. ; Martínez-Verdú, F.M.artículo
11closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2014Color representation and interpretation of special effect coatingsFerrero, Alejandro ; Perales, E.; Rabal, Ana M.; Campos Acosta, Joaquín  ; Martínez-Verdú, F.M.; Chorro, Elizabet; Pons Aglio, Alicia artículo
12openAccess87.pdf.jpg15-Oct-2004Comparación de Instrumentos de Medida del ColorCampos Acosta, Joaquín  ; Rubiño López, M.; Castillo Rubí, F. J.; Pons Aglio, Alicia artículo
13openAccessIntercomparisonBRDF6.pdf.jpg14-Jun-2016Consistency analysis of multidimensional gonio-spectrophotometric measurements in interlaboratory comparisonsFerrero, Alejandro ; Campos Acosta, Joaquín  ; Bernad, Berta ; Pons Aglio, Alicia ; Hernanz, María Luisa ; Martínez-Verdú, Francsico M.; Höpe, Andreasartículo
14openAccessCustomizing plasmonic.pdf.jpg9-Jun-2017Customizing plasmonic diffraction patterns by laser interferencePeláez, Ramón J. ; Ferrero, Alejandro ; Skeren, M.; Bernard, Berta; Campos Acosta, Joaquín  artículo
15openAccessoe-26-23-30116.pdf.jpg1-Nov-2018Definition of a measurement scale of graininess from reflectance and visual measurementsFerrero, Alejandro ; Velázquez, J.L. ; Perales, E.; Campos Acosta, Joaquín  ; Martínez Verdú, Francisco M.artículo
16openAccess225.pdf.jpg2006Desarrollo de un nuevo patrón de luminancia en el Instituto de Física Aplicada (CSIC)Fontecha, Jose Luis; Corróns, Antonio ; Campos Acosta, Joaquín  ; Pons Aglio, Alicia artículo
17openAccessCampos.pdf.jpg1987Description of precision colorimeterCampos Acosta, Joaquín  ; Pons Aglio, Alicia ; Corróns, Antonio artículo
18closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2010Determining the time-frequency parameters of low-power bright picosecond optical pulses by using the interferometric techniqueShcherbakov, Alexandre S.; Muñoz Zurita, Ana Luz; Kosarsky, Alexey Yu; Campos Acosta, Joaquín  artículo
19openAccessDeviation of white diffuse.pdf.jpg9-Aug-2019Deviation of white diffuse reflectance standards from perfect reflecting diffuser at visible and near-infrared spectral rangesBernad, Berta ; Ferrero, Alejandro ; Strothkämper, C.; Campos Acosta, Joaquín  ; Pons Aglio, Alicia ; Quast, T.; Hauer, K.O.; Schirmacher, A.artículo
20closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg9-Jan-2017Evaluation of uncertainties for CIELAB color coordinatesWübbeler, Gerd; Campos Acosta, Joaquín  ; Elster, Clemensartículo