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9-jun-2014
Analysis of the temperature dependence of the switching variability in Ni/HfO2-based RRAM devices
González, M. B.
;
Rafí, J. M.
CSIC
ORCID
;
Beldarrain, O.
;
Zabala, Miguel
;
Acero Leal, María Cruz
CSIC
ORCID
;
Campabadal, Francesca
CSIC
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Beldarrain, O.
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Campabadal, Francesca
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González, M. B.
1
Rafí, J. M.
