Espectroscopia fotoelectrónica de Rayos-X

Mello-Castanho, Sonia

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Campo DC	Valor	Lengua/Idioma
dc.contributor.author	Mello-Castanho, Sonia	-
dc.date.accessioned	2012-05-22T08:36:14Z	-
dc.date.available	2012-05-22T08:36:14Z	-
dc.date.issued	1997	-
dc.identifier.citation	Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio. Vol. 36 Num. 4 Julio-Agosto 1997	es_ES
dc.identifier.issn	0366-3175	-
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10261/49931	-
dc.description.abstract	Se hace una breve descripción del fundamento de las técnicas de espectroscopia electrónica y su aplicación en el estudio de superficies. Entre ellas, el trabajo se centra en la técnica de espectroscopia fotoelectrónica de rayos-X (XPS), explicándose brevemente el fundamento de la técnica y la interpretación de los espectros que se obtienen. Finalmente, se discuten algunas de sus posibles aplicaciones en el análisis de materiales cerámicos y vidrios.	es_ES
dc.language.iso	spa	es_ES
dc.publisher	Sociedad Española de Cerámica y Vidrio	es_ES
dc.rights	openAccess	es_ES
dc.subject	Superficies	es_ES
dc.subject	XPS	es_ES
dc.title	Espectroscopia fotoelectrónica de Rayos-X	es_ES
dc.type	artículo	es_ES
dc.description.peerreviewed	Peer reviewed	es_ES
dc.relation.publisherversion	http://boletines.secv.es/upload/199736425.pdf	es_ES
dc.type.coar	http://purl.org/coar/resource_type/c_6501	es_ES
item.cerifentitytype	Publications	-
item.openairecristype	http://purl.org/coar/resource_type/c_18cf	-
item.grantfulltext	open	-
item.openairetype	artículo	-
item.fulltext	With Fulltext	-
item.languageiso639-1	es	-
Aparece en las colecciones:	(ICV) Artículos