Perez Murano, Francesc X.

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Firma en Digital.CSIC (*)

Centro o Instituto

CSIC - Instituto de Microelectrónica de Barcelona (IMB-CNM)

Categoría Profesional

Profesor de Investigación

Especialización

Micro/nano electrónica

francesc.perez@csic.es

ORCID

0000-0002-4647-8558

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Autor: Fraxedas, J.

Resultados 1-2 de 2.

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		Derechos	Preview	Fecha Public.	Título	Autor(es)	Tipo
	1	openAccess		12-oct-2016	Method for monitoring radius and shape variations of atomic force microscope cantilever tips and device thereof	Fraxedas, J. CSIC ORCID ; Perez Murano, Francesc X. CSIC ORCID ; Staufer, Urs; Rull, Enrique	solicitud de patente
	2	openAccess		13-oct-2016	Method for monitoring radius and shape variations of atomic force microscope cantilever tips and device thereof	Fraxedas, J. CSIC ORCID ; Perez Murano, Francesc X. CSIC ORCID ; Staufer, Urs; Rull, Enrique	solicitud de patente