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Perez Murano, Francesc X.

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Perfil

Firma en Digital.CSIC (*)
Perez Murano, Francesc X.
 
Centro o Instituto
CSIC - Instituto de Microelectrónica de Barcelona (IMB-CNM)
 
Categoría Profesional
Profesor de Investigación
 
Especialización
Micro/nano electrónica
 
Email
francesc.perez@csic.es
 
ORCID
 
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Publications

Resultados 1-6 de 6.

DerechosPreviewFecha Public.TítuloAutor(es)Tipo
1openAccessWO2010010224A1.pdf.jpg28-ene-2010System for aligning patterns on a substrate using stencil lithographyPerez Murano, Francesc X. CSIC ORCID ; Arcamone, Julien; Sansa Perna, Marc; Bruegger, Juergen; Van Den Boogart, Marc; Barniol Beumala, Núria; Abadal Berini, Gabriel; Uranga del Monte, Arantxa; Verd Martorell, Jaumesolicitud de patente
2openAccess2332082_A1.pdf.jpg25-ene-2010Sistema de alineación de patrones en un sustrato mediante litografía por esténcilPerez Murano, Francesc X. CSIC ORCID ; Arcamone, Julien; Sansa Perna, Marc; Bruegger, Juergen; Van den Boogart, Marc; Barniol Beumala, Núria; Abadal Berini, Gabriel; Uranga del Monte, Arantxa; Verd Martorell, Jaumesolicitud de patente
3openAccessES2775649A1.pdf.jpg27-jul-2020Procedimiento de transferencia de motivos micro- y/o nano-estructurados a superficies arbitrariasRius, Gemma CSIC ORCID ; Muntada López, Olga; Perez Murano, Francesc X. CSIC ORCID solicitud de patente
4openAccessWO2020021142A1.pdf.jpg30-ene-2020Method for transferring micro- and/or nano-structured patterns to arbitrary surfacesRius, Gemma CSIC ORCID ; Muntada López, Olga; Perez Murano, Francesc X. CSIC ORCID solicitud de patente
5openAccessEP3078973A1.pdf.jpg12-oct-2016Method for monitoring radius and shape variations of atomic force microscope cantilever tips and device thereofFraxedas, J. CSIC ORCID ; Perez Murano, Francesc X. CSIC ORCID ; Staufer, Urs; Rull, Enriquesolicitud de patente
6openAccessWO2016162496A1.pdf.jpg13-oct-2016Method for monitoring radius and shape variations of atomic force microscope cantilever tips and device thereofFraxedas, J. CSIC ORCID ; Perez Murano, Francesc X. CSIC ORCID ; Staufer, Urs; Rull, Enriquesolicitud de patente