Method for monitoring radius and shape variations of atomic force microscope cantilever tips and device thereof

Abstract

[EN] A method for monitoring radius and shape variations of the cantilever tips of atomic force microscopes AFM, the method envisages several embodiments and aspects of the invention aimed to the solve the problem of monitoring and assessing the shape of tips of cantilevers used in AFM. The method hereby described is applicable for the amplitude modulation mode of operation of an atomic force microscopes and based in the relationship between the tip characteristics and the determining the condition of the radius of the tip from the amplitude of at least one nth(s) harmonic wherein higher intensity of the value of the amplitude of the nth(s) harmonic implies higher values of the radius of the tip.

[ES] Un método para monitorear las variaciones de radio y forma de las puntas de voladizo de los microscopios de fuerza atómica AFM, el método contempla varias realizaciones y aspectos de la invención dirigidos a resolver el problema de monitorear y evaluar la forma de las puntas de los voladizos utilizados en la MFA. El método aquí descrito es aplicable para el modo de operación de modulación de amplitud de un microscopio de fuerza atómica y se basa en la relación entre las características de la punta y la determinación de la condición del radio de la punta a partir de la amplitud de al menos una nth (s) armónica en donde la mayor intensidad del valor de la amplitud del armónico nth (s) implica valores más altos del radio de la punta.