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Navegación por Autor Pineda de Gyvez, José
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
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openAccess | may-2007 | BIST Method for Die-Level Process Parameter Variation Monitoring in Analog/Mixed-Signal Integrated Circuits | Zjajo, Amir; Barragán, Manuel J. CSIC ORCID; Pineda de Gyvez, José | comunicación de congreso | |
closedAccess | 2012 | Digital adaptive calibration of multi-step analog to digital converters | Zjajo, Amir; Barragán, Manuel J. CSIC ORCID; Pineda de Gyvez, José | artículo | |
openAccess | 2011 | Introduction to the special issue on the 36th European Solid-State Circuits Conference (ESSCIRC) | Rodríguez-Vázquez, Ángel CSIC ORCID; Leenaerts, D. M. W.; Pineda de Gyvez, José | artículo | |
closedAccess | 6-feb-2012 | Low-power die-level process variation and temperature monitors for yield analysis and optimization in deep-submicron CMOS | Zjajo, Amir; Barragán, Manuel J. CSIC ORCID; Pineda de Gyvez, José | artículo |