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DerechosPreviewFecha Public.TítuloAutor(es)Tipo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2009Patterning of ALD HfO2 layers on siliconAndreu, Robert; Sanchez, Javier; Sanchez, Ana; Zabala, Miguel; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID ; Rafí, J. M. CSIC ORCID ; Campabadal, Francesca CSIC ORCID artículo
openAccessjmrafi_WoDiM_2008_JVSTB.pdf.jpg17-feb-2009Progressive degradation of TiNSiON and TiNHf O2 gate stack triple gate SOI nFinFETs subjected to electrical stressRafí, J. M. CSIC ORCID ; Simoen, E.; Mercha, A.; Collaert, Nadine; Campabadal, Francesca CSIC ORCID ; Claeys, C.artículo
closedAccessene-2024Spectrometric performance of SiC radiation detectors at high temperatureJiménez-Ramos, M. C. CSIC ORCID; García-Osuna, Adrián; Rodríguez-Ramos, M. CSIC ORCID; Viezzer, Eleonora CSIC ORCID; Pellegrini, Giulio CSIC ORCID; Godignon, Philippe; Rafí, J. M. CSIC ORCID ; Rius, Gemma CSIC ORCID; García López, J. CSIC ORCIDartículo
closedAccess24-may-2007Technology of p-type microstrip detectors with radiation hard p-spray, p-stop and moderated p-spray insulationsPellegrini, Giulio CSIC ORCID; Fleta, Celeste CSIC ORCID ; Campabadal, Francesca CSIC ORCID ; Miñano, Mercedes CSIC ORCID; Lozano Fantoba, Manuel CSIC ORCID ; Rafí, J. M. CSIC ORCID ; Ullán Comes, Miguel artículo
openAccessesref00_no25.PDF.jpg2000Transconductance increase due to charge trapping during hot-carrier stress of nMOSFETsRafí, J. M. CSIC ORCID ; Campabadal, Francesca CSIC ORCID artículo
openAccessLozano.VCI07.pdf.jpg6-ago-2007Ultimate limits for the radiation hardness of silicon strip detectors for sLHCLozano Fantoba, Manuel CSIC ORCID ; Campabadal, Francesca CSIC ORCID ; García García, Carmen CSIC ORCID; González Sevilla, Sergio CSIC ORCID; Lacasta Llácer, Carlos CSIC ORCID ; Lacuesta, Vicente CSIC; Martí García, Salvador; Miñano, Mercedes CSIC ORCID; Pellegrini, Giulio CSIC ORCID; Ullán Comes, Miguel ; Rafí, J. M. CSIC ORCID artículo
openAccessXBPMs_SSE_letter_EUROSOI_ULIS_2023.pdf.jpg1-nov-2023Ultrathin four-quadrant silicon photodiodes for beam position and monitor applications: Characterization and radiation effectsRafí, J. M. CSIC ORCID ; Quirion, D.; Duch, M.; Lopez Paz, I.; Dauderys, V.; Claus, T.; Moffat, N.; Molas, B.; Tsunoda, I.; Yoneoka, M.; Takakura, K.; Kramberger, G.; Moll, M.; Pellegrini, G.artículo
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