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| Título: | Transconductance increase due to charge trapping during hot-carrier stress of nMOSFETs |
Autor: | Rafí, J. M. CSIC ORCID ; Campabadal, Francesca CSIC ORCID | Fecha de publicación: | 2000 | Versión del editor: | https://doi.org/10.1016/S0026-2714(00)00173-6 | URI: | http://hdl.handle.net/10261/257000 | DOI: | 10.1016/S0026-2714(00)00173-6 |
| Aparece en las colecciones: | (IMB-CNM) Artículos |
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| Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
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