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1openAccesshttp___scitation.aip.org10.1063_1.pdf.jpg2011Determining concentration depth profiles in fluorinated networks by means of electric force microscopyMiccio, Luis A. CSIC ORCID; Kummali, Mohammed M. CSIC; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
2closedAccess2011Numerical study of the lateral resolution in electrostatic force microscopy for dielectric samplesRiedel, C.; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID; Sáenz, J. J.artículo
3openAccesse010801.pdf.jpg2010Nanodielectric mapping of a model polystyrene-poly(vinyl acetate) blend by electrostatic force microscopyRiedel, C.; Arinero, R.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
4closedAccessjul-2011Broadband nanodielectric spectroscopy by means of amplitude modulation electrostatic force microscopy (AM-EFM)Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Riedel, C.; Arinero, R.; Tordjeman, Ph.; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
5closedAccessdic-2010Water dynamics in poly(vinyl pyrrolidone)–water solution before and after isothermal crystallizationCerveny, Silvina CSIC ORCID ; Ouchiar, S.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
6closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2011Compatibility studies of polystyrene and poly(vinyl acetate) blends using electrostatic force microscopyKummali, Mohammed M. CSIC; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Arinero, R.; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
7closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2007Dielectric study of the segmental relaxation of low and high molecular weight polystyrenes under hydrostatic pressureSchwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID artículo
8openAccesshighmixtur.pdf.jpg2009High pressure dynamics of polymer/plasticizer mixturesSchwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Paluch, Marian; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
9openAccessCAPITULOS_DE_LIBROS291027[1].pdf.jpg2010Measuring dielectric properties at the nanoscale using Electrostatic Force MicroscopyArinero, R.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDcapítulo de libro
10openAccess2011On the use of electrostatic force microscopy as a quantitative subsurface characterization technique: A numerical studyRiedel, C.; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Arinero, R.; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID; Sáenz, J. J.artículo
11openAccesshttp___scitation.aip.org10.1063_1.pdf.jpg2011Positron annihilation and relaxation dynamics from dielectric spectroscopy and nuclear magnetic resonance: Cis–trans-1,4-poly(butadiene)Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Arbe, Arantxa CSIC ORCID; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
12openAccessdescrimode.pdf.jpg2006Describing the component dynamics in miscible polymer blends: Towards a fully predictive modelSchwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Cangialosi, Daniele CSIC ORCID ; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
13closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2013Local mechanical and dielectric behavior of the interacting polymer layer in silica nano-particles filled SBR by means of AFM-based methodsKummali, Mohammed M. CSIC; Miccio, Luis A. CSIC ORCID; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID; Otegui, Jon CSIC; Petzold, Albrecht; Westermann, Stephanartículo
14closedAccessabr-2010Positron annihilation response and broadband dielectric spectroscopy: Poly(propylene glycol)Bartoš, Josef; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
15closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2007Single component dynamics in miscible poly(vinyl methyl ether)/polystyrene blends under hydrostatic pressureSchwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID artículo
16openAccesshttp___scitation.aip.org10.1063_1.pdf.jpg2010Imaging dielectric relaxation in nanostructured polymers by frequency modulation electrostatic force microscopyRiedel, C.; Arinero, R.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
17closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2006Pressure−temperature dependence of polymer segmental dynamics. Comparison between the Adam−Gibbs approach and density scalingsSchwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID artículo
18openAccessDielectric spectroscopy.pdf.jpg2014Dielectric spectroscopy at the nanoscale by atomic force microscopy: A simple model linking materials properties and experimental responseMiccio, Luis A. CSIC ORCID; Kummali, Mohammed M. CSIC; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
19openAccesshigher eigenmodes.pdf.jpg2014AFM based dielectric spectroscopy: Extended frequency range through excitation of cantilever higher eigenmodesMiccio, Luis A. CSIC ORCID; Kummali, Mohammed M. CSIC; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
20closedAccessmay-2010Nanoscale dielectric properties of insulating thin films: From single point measurements to quantitative imagesRiedel, C.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Arinero, R.; Tordjeman, Ph.; Lévêque, G.; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
21openAccessDielectric properties.pdf.jpgabr-2010Dielectric properties of thin insulating layers measured by Electrostatic Force MicroscopyRiedel, C.; Arinero, R.; Tordjeman, Ph.; Lévêque, G.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Oteyza, Dimas G. de CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
22openAccessdetermicrosco.pdf.jpg2009Determination of the nanoscale dielectric constant by means of a double pass method using electrostatic force microscopyRiedel, C.; Arinero, R.; Tordjeman, Ph.; Ramonda, M.; Lévêque, G.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Oteyza, Dimas G. de CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
23openAccessadampress.pdf.jpg2007Adam-Gibbs based model to describe the single component dynamics in miscible polymer blends under hydrostatic pressureSchwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
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