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Navegación por Autor Duguay, S.

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Derechos	Preview	Fecha Public.	Título	Autor(es)	Tipo
openAccess		2015	Atomic scale characterization of SiO2/4H-SiC interfaces in MOSFETs devices	*Beltrán, Ana M.; Duguay, S.; Strenger, C.; Cristiano, F.; Schamm-Chardon, S.*	artículo

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