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Navegación por Autor Christophersen, M.
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
openAccess | | 2016 | Gamma and proton irradiation effects and thermal stability of electrical characteristics of metal-oxide-silicon capacitors with atomic layer deposited Al<inf>2</inf>O<inf>3</inf> dielectric | Rafí, J. M. CSIC ORCID ; Pellegrini, Giulio CSIC ORCID; Fadeyev, V.; Galloway, Z.; Sadrozinski, H.F.-W.; Christophersen, M.; Phlips, B.F.; Lynn, D.; Kierstead, J.; Hoeferkamp, M.; Gorelov, I.; Palni, P.; Wang, R.; Seidel, S. | artículo |