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Navegación por Autor Kroll, J.

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openAccess1-feb-2023Effect of irradiation and annealing performed with bias voltage applied across the coupling capacitors on the interstrip resistance of ATLAS ITk silicon strip sensorsKroll, J.; Allport, P. P.; Chisholm, A.; Dudáš, D.; Fadeyev, V.; George, W.; Gonella, L.; Kopsalis, I.; Kvasnička, J.; Latoňová, V.; Lomas, J.; Martinez-Mckinney, F.; Mikeštíková, M.; Shi, X.; Tůma, P.; Ullán Comes, Miguel ; Unno, Y.artículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg11-may-2018Preparation and characterization of 33S samples for 33S(n,)30Si cross-section measurements at the n_TOF facility at CERNPraena, Javier CSIC; Ferrer, F. J. CSIC ORCID; Vollenberg, W.; Sabaté-Gilarte, Marta; Fernández-Martínez, Begoña CSIC ORCID; García López, J. CSIC ORCID; Porras, Ignacio; Quesada, José Manuel; Altstadt, Sebastian; Andrzejewski, Józef; Audouin, Laurent; Fraval, K.; Gómez-Hornillos, B.; Ganesan, S.; García, A.R.; Giubrone, G.; Katabuchi, T.; Karadimos, D.; Kadi, Y.; Ketlerov, V.; Khryachkov, V.; Kivel, N.; Gonçalves, I.F.; González-Romero, E.; Goverdovski, A.; Griesmayer, E.; Guerrero, C. CSIC; Hernández-Prieto, A.; Heyse, J.; Jenkins, D. G.; Jericha, E.; Kappeler, F.; Kroll, J.; Kokkoris, M.; Koehler, P.; Krticka, M.; Lampoudis, C.; Langer, C.; Mastromarco, M.; Mastinu, Pierfrancesco; Massimi, C.; Mendoza, E.; Mengoni, A.; Milazzo, P. M.; Leal-Cidoncha, E.; Lederer-Woods, C.; Leeb, H.; Leong, L. S.; Lerendegui-Marco, J.; Losito, R.; Mallick, A.; Manousos, A.; Marganiec, J.; Martínez, T.; Mondelaers, W.; Mirea, M.; Mingrone, F.; Paradela, Cristina CSIC; Pavlik, A.; Perkowski, J.; Sedyshev, P.; Schumann, D.; Schmidt, S.; Tagliente, G.; Taín, José Luis CSIC ORCID; Tarifeño-Saldivia, A.; Plompen, A. J. M.; Rauscher, T.; Reifarth, R.; Riego-Perez, A.; Robles, M.; Rubbia, C.; Ryan, J. A.; Sarmento, R.; Saxena, A.; Schillebeeckx, P.; Tsinganis, A.; Tassan-Got, L.; Tarrío, D.; Valenta, S.; Vannini, G.; Variale, V.; Bécares, Vicente; n_TOF Collaboration; Žugec, P.; Barbagallo, M.; Becvar, František; Belloni, Francesca; Vaz, P.; Ventura, A.; Vermeulen, M. J.; Vlachoudis, V.; Vlastou, R.; Wallner, A.; Ware, T.; Weigand, M.; Weiss, C.; Wright, T.; Boccone, Vittorio; Billowes, Jonathan; Berthoumieux, Eric; Bosnar, Damir; Brugger, Markus; Calviño, F.; Calviani, Marco; Durán, Ignacio CSIC ORCID; Dressler, R.; Domingo Pardo, César CSIC ORCID ; Eleftheriadis, C.; Ferrari, A.; Cano-Ott, Daniel; Carrapiço, C.; Cerutti, Francesco; Chiaveri, Enrico; Chin, Mary P.W.; Colonna, Nicola; Cortés, Guillem; Cortés-Giraldo, Miguel Antonio CSIC ORCID; Diakaki, Maria; Dietz, M.; Göbel, K.; Furman, V.artículo
openAccessSpecifications-and-preproduction-of-nsupsupinp-largeformat-strip-sensors-fabricated-in-6inch-silicon-wafers-ATLAS18-for-the-Inner-Tracker-of-the-ATLAS-Detector-for-HighLuminosity-Large-Hadron-ColliderJournal-of-Instrumentation.pdf.jpg1-may-2023Specifications and pre-production of n<sup>+</sup>-in-p large-format strip sensors fabricated in 6-inch silicon wafers, ATLAS18, for the Inner Tracker of the ATLAS Detector for High-Luminosity Large Hadron ColliderUnno, Y.; Abidi, H.; Affolder, A.; Affolder, K.; Allport, P. P.; Beaupre, S.; Beck, G. A.; Bernabeu, J.; Bevan, A. J.; Chisholm, A.; Ciungu, B.; Dawson, I.; Dowling, A.; Fadeyev, V.; Federicova, P.; Fernandez-Tejero, J.; Fleta, Celeste CSIC ORCID ; Fournier, A.; George, W.; Gignac, M.; Gonella, L.; Greig, G.; Gunnell, J.; Hara, K.; Hirose, S.; Hommels, B.; Ishii, T.; Jessiman, C.; Johnson, J.; Jones, D.; Kachiguin, S.; Kang, N.; Keller, J.; Klein, C.; Koffas, T.; Kopsalis, I.; Kroll, J.; Kvasnicka, J.; Lacasta, C.; Latonova, V.; Lomas, J.; Martinez-Mckinney, F.; Mikestikova, M.; Miyagawa, P. S.; Orr, R. S.; Poley, L.; Rousso, D.; Shah, A.; Solaz, C.; Soldevila, U.; Staats, E.; Stack, T. L.; Stelzer, B.; Ullán Comes, Miguel ; Yarwick, J.; Zenz, S. C.artículo
openAccess1-ene-2023Test and extraction methods for the QC parameters of silicon strip sensors for ATLAS upgrade trackerRousso, D.; Jones, D. M.; Federicova, P.; Hommels, B.; Affolder, A.; Affolder, K.; Allport, P. P.; Bernabeu, J.; Dowling, A.; Fadeyev, V.; Fernandez-Tejero, J.; Fournier, A.; George, W.; Gignac, M.; Gonella, L.; Gunnell, J.; Hara, K.; Hirose, S.; Ishii, T.; Johnson, J.; Kachiguin, S.; Kang, N.; Kopsalis, I.; Kroll, J.; Kvasnicka, J.; Lacasta, C.; Latonova, V.; Martinez-Mckinney, F.; Mikestikova, M.; Nakamura, K.; Saito, K.; Solaz, C.; Soldevila, U.; Ullán Comes, Miguel ; Unno, Y.; Yarwick, J.artículo
openAccess369_Escobar_Testbeam.pdf.jpgabr-2019Test beam evaluation of silicon strip modules for ATLAS phase-II strip tracker upgradeBlue, A. J.; Affolder, A. A.; Ai, X.; Allport, P. P.; Arling, J. H.; Atkin, R. J.; Bruni, L. S.; Carli, I.; Casse, G.; Chen, L.; Chisholm, A.; Cormier, K.; Cunningham, W.; Dervan, P.; Díez, Sergio; Dolezal, Z.; Dopke, J.; Dreyer, E.; Dreyling-Eschweiler, J.; Escobar, Carlos CSIC ORCID ; Fabiani, V.; Fadeyev, V.; Fernandez-Tejero, J.; Fleta, Celeste CSIC ORCID ; Gabrielli, Alessandro; Gallop, B.; Argos, C. G.; Greenall, A.; Gregor, I. M.; Greig, G.; Guescini, F.; Hara, K.; Hauser, M.; Huang, Y.; Hunter, R. F. H.; Keller, J. S.; Klein, C. T.; Kodys, P.; Koetz, U.; Koffas, T.; Kotek, Z.; Kroll, J.; Kühn, S.; Lee, S. J.; Liu, Y.; Lohwasser, K.; Mészárosová, L.; Mikestikova, M.; Miñano Moya, M.; Rodriguez Rodriguez, D. CSICartículo