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		Derechos	Preview	Fecha Public.	Título	Autor(es)	Tipo
	1	openAccess		2020	A Robust and Automated Methodology for the Analysis of Time-Dependent Variability at Transistor Level	Saraza-Canflanca, P. CSIC ORCID; Díaz-Fortuny, J.; Castro-López, R. CSIC ORCID ; Roca, Elisenda CSIC ORCID ; Martín-Martínez, Javier; Rodríguez, R.; Nafría, Montserrat; Fernández, Francisco V. CSIC ORCID	artículo
	2	openAccess		2021	Unified RTN and BTI statistical compact modeling from a defect-centric perspective	Pedreira, G.; Saraza-Canflanca, P. CSIC ORCID; Castro-López, R. CSIC ORCID ; Rodríguez, R.; Roca, Elisenda CSIC ORCID ; Fernández, Francisco V. CSIC ORCID; Nafría, Montserrat	artículo
	3	openAccess		2019	A detailed study of the gate/drain voltage dependence of RTN in bulk pMOS transistors	Saraza-Canflanca, P. CSIC ORCID; Martín-Martínez, Javier; Castro-López, R. CSIC ORCID ; Roca, Elisenda CSIC ORCID ; Rodríguez, R.; Nafría, Montserrat; Fernández, Francisco V. CSIC ORCID	artículo
	4	closedAccess		sep-2016	Reliability simulation for analog ICs: Goals, solutions, and challenges	Toro-Frias, A. CSIC; Martín-Lloret, P. CSIC; Martín-Martínez, Javier; Castro-López, R. CSIC ORCID ; Roca, Elisenda CSIC ORCID ; Rodríguez, R.; Nafría, Montserrat; Fernández, Francisco V. CSIC ORCID	artículo
	5	openAccess		2021	Statistical Characterization of Time-Dependent Variability Defects Using the Maximum Current Fluctuation	Saraza-Canflanca, P. CSIC ORCID; Martín-Martínez, Javier; Castro-López, R. CSIC ORCID ; Roca, Elisenda CSIC ORCID ; Rodríguez, R.; Fernández, Francisco V. CSIC ORCID; Nafría, Montserrat	artículo