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Navegación por Autor Hultman, Lars
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
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openAccess | 22-may-2012 | Electronic-structure origin of the anisotropic thermopower of nanolaminated Ti3SiC2 determined by polarized x-ray spectroscopy and Seebeck measurements | Magnuson, Martin; Mattesini, Maurizio CSIC ORCID ; Van Nong, Ngo; Eklund, Per; Hultman, Lars | artículo |