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	Derechos	Fecha Public.	Título	Autor(es)	Tipo
1	closedAccess	may-2010	High and low molecular weight crossovers in the longest relaxation time dependence of linear cis-1,4 polyisoprene by dielectric relaxations	Riedel, C.; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Tordjeman, Ph.; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID	artículo
2	openAccess	2009	Determination of the nanoscale dielectric constant by means of a double pass method using electrostatic force microscopy	Riedel, C.; Arinero, R.; Tordjeman, Ph.; Ramonda, M.; Lévêque, G.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Oteyza, Dimas G. de CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID	artículo
3	openAccess	2011	On the use of electrostatic force microscopy as a quantitative subsurface characterization technique: A numerical study	Riedel, C.; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Arinero, R.; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID; Sáenz, J. J.	artículo
4	openAccess	2010	Imaging dielectric relaxation in nanostructured polymers by frequency modulation electrostatic force microscopy	Riedel, C.; Arinero, R.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID	artículo
5	closedAccess	2011	Contrast inversion in electrostatic force microscopy imaging of trapped charges: tip–sample distance and dielectric constant dependence	Riedel, C.; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Arinero, R.; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID; Sáenz, J. J.	artículo
6	closedAccess	may-2010	Nanoscale dielectric properties of insulating thin films: From single point measurements to quantitative images	Riedel, C.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Arinero, R.; Tordjeman, Ph.; Lévêque, G.; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID	artículo
7	closedAccess	jul-2011	Broadband nanodielectric spectroscopy by means of amplitude modulation electrostatic force microscopy (AM-EFM)	Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Riedel, C.; Arinero, R.; Tordjeman, Ph.; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID	artículo
8	openAccess	2010	Nanodielectric mapping of a model polystyrene-poly(vinyl acetate) blend by electrostatic force microscopy	Riedel, C.; Arinero, R.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID	artículo
9	openAccess	abr-2010	Dielectric properties of thin insulating layers measured by Electrostatic Force Microscopy	Riedel, C.; Arinero, R.; Tordjeman, Ph.; Lévêque, G.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Oteyza, Dimas G. de CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID	artículo
10	closedAccess	2011	Numerical study of the lateral resolution in electrostatic force microscopy for dielectric samples	Riedel, C.; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID; Sáenz, J. J.	artículo