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Firma en Digital.CSIC (*)
Peralías, E.
 
Centro o Instituto
CSIC - Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMSE-CNM)
 
Departamento
Diseño y Test de Circuitos integrados de señal mixta
 
Categoría Profesional
Científico Titular
 
Especialización
Diseño, análisis y test de sistemas microelectrónicos mixtos de conversión de datos Analógico-Digital y Digital-Analógico
 
Email
peralias@imse-cnm.csic.es
 
 
Perfil en Google Scholar
 
WoS ResearcherID - Publons
 
Scopus AuthorID
 
 
Otros - Academia.edu
 
Otros - ResearchGate
 

Refined By:
Autor:  Ceballos-Cáceres, J.

Resultados 1-1 de 1.

DerechosPreviewFecha Public.TítuloAutor(es)Tipo
1openAccessesa16badc.jpg.jpg2016esa16badcGinés, Antonio J. CSIC ORCID; Mora-Gutiérrez, J. M. CSIC ORCID; Núñez, Juan CSIC ORCID ; Ragel-Morales, A. CSIC ORCID; Sordo-Ibáñez, Samuel CSIC; Carranza-González, S.; Ceballos-Cáceres, J. CSIC ORCID; Peralías, E. CSIC ORCID topografía de productos semiconductores