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Autor(es)
Tipo
1
openAccess
14-jun-2013
A new bottom-up methodology to produce silicon layers with a closed porosity nanostructure and reduced refractive index
Godinho, V.
CSIC
ORCID
;
Caballero-Hernández, J.
CSIC
ORCID
;
Jamon, D.
;
Rojas, Teresa Cristina
;
Schierholz, R.
CSIC
ORCID
;
García López, J.
CSIC
ORCID
;
Ferrer, F. J.
CSIC
ORCID
;
Fernández-Camacho, A.
CSIC
ORCID
artículo
2
openAccess
2014
Simultaneous quantification of light elements in thin films deposited on Si substrates using proton EBS (Elastic Backscattering Spectroscopy)
Ferrer, F. J.
CSIC
ORCID
;
Alcaire, María
CSIC
ORCID
;
Caballero-Hernández, J.
CSIC
ORCID
;
García-García, Francisco J.
CSIC
ORCID
;
Gil-Rostra, J.
CSIC
ORCID
;
Terriza, Antonia
CSIC
;
Godinho, V.
CSIC
ORCID
;
García López, J.
CSIC
ORCID
;
Barranco, Ángel
CSIC
ORCID
;
Fernández-Camacho, A.
CSIC
ORCID
artículo
Explorar
Autor
2
Caballero-Hernández, J.
2
Godinho, V.
1
Alcaire, María
1
Barranco, Ángel
1
García-García, Francisco J.
1
Gil-Rostra, J.
1
Jamon, D.
1
Rojas, Teresa Cristina
1
Schierholz, R.
1
Terriza, Antonia
.
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Palabras clave
1
Carbon content
1
Elastic Backscattering Spectroscopy
1
Fluorine content
1
Helium content
1
Nitrogen content
1
Oxygen content
1
Proton beams
Fecha de Publicación
1
2014
1
2013