Técnicas de caracterización petrológicas (II): Microscopía Óptica de Fluorescencia (MOF) y Microscopía Electrónica de Barrido (MEB)

Abstract

Las técnicas microscópicas, a pesar de ser ligeramente invasivas, se han convertido actualmente en técnicas necesarias e imprescindibles en cualquier campo científico, suponiendo en muchos casos la base para el desarrollo de proyectos de investigación. Para la caracterización composicional, textural y estructural de las muestras a escala de micrómetro (μm) y nanómetro (nm), es necesaria una instrumentación especial que permita su visualización con mayor resolución. Desde mediados del siglo XIX, la microscopía petrográfica supuso un gran avance para las ciencias geológicas y, en particular, para el estudio de los geomateriales empleados en el patrimonio cultural. La caracterización composicional y microtextural de estos materiales permite definir su estado de conservación, procesos de deterioro y/o la eficacia, idoneidad y durabilidad de los tratamientos de limpieza, consolidación y protección aplicados. La Microscopía Óptica de Polarización (MOP) utiliza luz visible como fuente de iluminación y, en muchos casos, debe complementarse con otras técnicas microscópicas más específicas. En esta ocasión, haremos mención a la Microscopía Óptica de Fluorescencia (MOF) y la Microscopía Electrónica de Barrido (MEB).