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http://hdl.handle.net/10261/258240COMPARTIR / EXPORTAR:
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| Título: | Structural Characterization of Ion Beam Synthesysed Polycristalline SiC on SiO2 |
Autor: | Serre, Christophe; Pérez Rodríguez, Alejandro; Romano-Rodríguez, Alberto; Morante, Joan Ramón CSIC ORCID; Esteve i Tintó, Jaume; Acero Leal, María Cruz CSIC ORCID | Fecha de publicación: | 16-oct-2000 | Citación: | 3rd International Conference on Materials for Microelectronics (2000) | Descripción: | Trabajo presentado en el 3rd International Conference on Materials for Microelectronics, celebrado en Dublín (Irlanda), los días 16 y 17 de octubre de 2000 | URI: | http://hdl.handle.net/10261/258240 |
| Aparece en las colecciones: | (IMB-CNM) Comunicaciones congresos |
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