Bimodal method and system for quantifying long-range itneractions and properties in force microscopy

Abstract

La presente invención se refiere a un método bimodal para cuantificar interacciones y propiedades de largo alcance en microscopía de fuerzas, basado en modular en amplitud y,de forma simultánea,excitar al menos dos modos de vibración de la micropalanca de un microscopio, que emplea los desplazamientos de amplitud y fase delos modos excitados para cuantificar propiedades nanomecánicas de muestras bajo estudio. La invención se refiere, asimismo, a un sistema de microscopía de fuerzas configurado para la realización del citado método. [ES]

The present invention relates to a bimodal method for quantifying long-range interactions and properties in force microscopy, which is based on the simultaneous amplitude modulation and excitement of at least two vibration modes of a microlever of a microscope, which uses the movements of the amplitude and phase of the excited modes to quantify nanomechanical properties of samples under study. The invention also relates to a force microscopy system configured to carry out the method. [EN]