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Invitar a revisión por pares abierta
Título

Método y sistema para la identificación de partículas basado en mediciones multifrecuencia de placas resonantes

AutorRuz Martínez, José Jaime CSIC ORCID; Malvar, Óscar CSIC ORCID; Gil-Santos, Eduardo CSIC ORCID; Calleja, Montserrat CSIC ORCID ; Tamayo de Miguel, Francisco Javier CSIC ORCID
Fecha de publicación31-jul-2020
CitaciónES2776702 A1
ResumenMétodo y sistema para la identificación de partículas basado en mediciones multifrecuencia de placas resonantes. La invención se refiere a un método de identificación de adsorbatos depositados sobre placas resonantes, donde dicho método comprende la realización de los siguientes pasos: i) se calcula una masa y posición candidatas del adsorbato, despreciando el efecto de rigidez a partir de la medición de las frecuencias de la placa y del previo conocimiento de la masa de la placa; ii) se utilizan los valores calculados como punto inicial para calcular los valores finales de masa, posición del adsorbato y los distintos coeficientes de rigidez a partir de la medida de las frecuencias de la placa; iii) se comparan los valores de la masa candidata del adsorbato y de los coeficientes calculados con un conjunto de valores de referencia previamente almacenados, correspondientes a un catálogo de adsorbatos conocidos; se identifica el adsorbato depositado en la placa como aquél perteneciente al catálogo que presenta mayor similitud con los valores obtenidos.
URIhttp://hdl.handle.net/10261/243190
Aparece en las colecciones: (IMN-CNM) Patentes




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