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Castro-López, R.

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Perfil

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Firma en Digital.CSIC (*)
Castro-López, R.
 
Centro o Instituto
CSIC - Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMS-CNM)
 
Categoría Profesional
Científico Titular
 
Especialización
Microelectronica
 
Email
rafael.castro@csic.es
 
ORCID
 
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Publications

Refined By:
Palabras Clave:  Variability

Resultados 1-4 de 4.

DerechosPreviewFecha Public.TítuloAutor(es)Tipo
1openAccessMEE_DIGITAL_CSIC.pdf.jpg2019A detailed study of the gate/drain voltage dependence of RTN in bulk pMOS transistorsSaraza-Canflanca, P. CSIC ORCID; Martín-Martínez, Javier; Castro-López, R. CSIC ORCID ; Roca, Elisenda CSIC ORCID ; Rodríguez, R.; Nafría, Montserrat; Fernández, Francisco V. CSIC ORCIDartículo
2openAccessFINAL VERSION JSSC.pdf.jpgdic-2018A Versatile CMOS Transistor Array IC for the Statistical Characterization of Time-Zero Variability, RTN, BTI, and HCIDíaz-Fortuny, Javier; Martín-Martínez, Javier; Rodríguez, Rosana; Castro-López, R. CSIC ORCID ; Roca, Elisenda CSIC ORCID ; Aragonés, Xavier; Barajas, Enrique; Mateo, Diego; Fernández, Francisco V. CSIC ORCID; Nafría, Montserratartículo
3openAccessTIM2019.pdf.jpg2020Flexible Setup for the Measurement of CMOS Timedependent Variability with Array-based Integrated CircuitsDíaz-Fortuny, Javier; Saraza-Canflanca, P. CSIC ORCID; Castro-López, R. CSIC ORCID ; Roca, Elisenda CSIC ORCID ; Martín-Martínez, Javier; Rodríguez, Rosana; Fernández, Francisco V. CSIC ORCID; Nafría, Montserratartículo
4openAccessTIM_pocc_final_v1.pdf.jpg27-may-2022On the impact of the biasing history on the characterization of random telegraph noiseSaraza-Canflanca, P. CSIC ORCID; Castro-López, R. CSIC ORCID ; Roca, Elisenda CSIC ORCID ; Martín-Martínez, Javier; Rodríguez, Rosana; Nafría, Montserrat; Fernández, Francisco V. CSIC ORCIDartículo