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Castro-López, R.

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Perfil

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Firma en Digital.CSIC (*)
Castro-López, R.
 
Centro o Instituto
CSIC - Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMS-CNM)
 
Categoría Profesional
Científico Titular
 
Especialización
Microelectronica
 
Email
rafael.castro@csic.es
 
ORCID
 
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Publications

Refined By:
Fecha de Publicación:  [2000 TO 2025]
Palabras Clave:  Reliability

Resultados 1-6 de 6.

DerechosPreviewFecha Public.TítuloAutor(es)Tipo
1embargoedAccessManuscript_SRAM-based_PUF.pdf.jpgjul-2022A DRV-based bit selection method for SRAM PUF key generation and its impact on ECCsSantana-Andreo, A. CSIC ORCID; Saraza-Canflanca, P. CSIC ORCID; Carrasco-López, H. CSIC; Brox, Piedad CSIC ORCID ; Castro-López, R. CSIC ORCID ; Roca, Elisenda CSIC ORCID ; Fernández, Francisco V. CSIC ORCIDartículo
2openAccessFINAL VERSION JSSC.pdf.jpgdic-2018A Versatile CMOS Transistor Array IC for the Statistical Characterization of Time-Zero Variability, RTN, BTI, and HCIDíaz-Fortuny, Javier; Martín-Martínez, Javier; Rodríguez, Rosana; Castro-López, R. CSIC ORCID ; Roca, Elisenda CSIC ORCID ; Aragonés, Xavier; Barajas, Enrique; Mateo, Diego; Fernández, Francisco V. CSIC ORCID; Nafría, Montserratartículo
3openAccessTIM_pocc_final_v1.pdf.jpg27-may-2022On the impact of the biasing history on the characterization of random telegraph noiseSaraza-Canflanca, P. CSIC ORCID; Castro-López, R. CSIC ORCID ; Roca, Elisenda CSIC ORCID ; Martín-Martínez, Javier; Rodríguez, Rosana; Nafría, Montserrat; Fernández, Francisco V. CSIC ORCIDartículo
4openAccessSRAM-PUFs.pdf.jpg1-mar-2024Reliability improvement of SRAM PUFs based on a detailed experimental study into the stochastic effects of agingSantana-Andreo, A. CSIC ORCID; Saraza-Canflanca, P. CSIC ORCID; Castro-López, R. CSIC ORCID ; Roca, Elisenda CSIC ORCID ; Fernandez, F. V.; Fernández, Francisco V. CSIC ORCIDartículo
5closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpgsep-2016Reliability simulation for analog ICs: Goals, solutions, and challengesToro-Frias, A. CSIC; Martín-Lloret, P. CSIC; Martín-Martínez, Javier; Castro-López, R. CSIC ORCID ; Roca, Elisenda CSIC ORCID ; Rodríguez, R.; Nafría, Montserrat; Fernández, Francisco V. CSIC ORCIDartículo
6openAccessEXTENDED_final_clean.pdf.jpg2021Unified RTN and BTI statistical compact modeling from a defect-centric perspectivePedreira, G.; Saraza-Canflanca, P. CSIC ORCID; Castro-López, R. CSIC ORCID ; Rodríguez, R.; Roca, Elisenda CSIC ORCID ; Fernández, Francisco V. CSIC ORCID; Nafría, Montserratartículo