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español
Navegación por Autor Vittone, E.
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
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closedAccess | 2016 | Charge collection efficiency degradation induced by MeV ions in semiconductor devices: Model and experiment | Vittone, E.; García López, J. CSIC ORCID | artículo | |
closedAccess | 19-jun-2019 | Determination of radiation hardness of silicon diodes | Vittone, E.; García López, J. CSIC ORCID; Jaksic, M.; Jiménez-Ramos, M. C. CSIC ORCID; Lohstroh, A.; Pastuovic, Z.; Rath, S.; Siegele, R.; Skukan, N.; Vizkelethy, G.; Simon, Anna | artículo |