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Navegación por Autor Jiménez-de-Luna, Yolanda
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
closedAccess | | 2022 | How the analysis of archival data could provide helpful information about TID degradation. Case study: Bipolar transistors | Martín Holgado, Pedro CSIC ORCID; Romero-Maestre, Amor; Martín Hernández, José de; González-Luján, José J.; Illera-Gómez, Iván; Jiménez-de-Luna, Yolanda; Morilla, Fernando; Sacristán Barbero, Mario; García Alía, Rubén; Domínguez, Manuel; Morilla, Yolanda CSIC ORCID | artículo |