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Navegación por Autor Schwartz, Gustavo A.

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DerechosPreviewFecha Public.TítuloAutor(es)Tipo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2021Hacia un mestizaje del conocimientoSchwartz, Gustavo A. CSIC ORCIDcomunicación de congreso
openAccesshighmixtur.pdf.jpg2009High pressure dynamics of polymer/plasticizer mixturesSchwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Paluch, Marian; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2018Imaging by touching: Atomic force microscopySchwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Navarro, Jaumeartículo
openAccesshttp___scitation.aip.org10.1063_1.pdf.jpg2010Imaging dielectric relaxation in nanostructured polymers by frequency modulation electrostatic force microscopyRiedel, C.; Arinero, R.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2013Influence of water and filler content on the dielectric response of silica-filled rubber compoundsOtegui, Jon CSIC; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Cerveny, Silvina CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
openAccessEntrevista-Revista-de-Letras.pdf.jpg2015La cuántica se consideraba una pérdida de tiempoSchwartz, Gustavo A. CSIC ORCIDtrabajo de divulgación
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2016La entrevistaEtxenike, Luisa; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCIDlibro
openAccessliterascienc.pdf.jpg2018Literatura y ciencia. Hacia una integración del conocimientoSchwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Berti, Eduardoartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2013Local mechanical and dielectric behavior of the interacting polymer layer in silica nano-particles filled SBR by means of AFM-based methodsKummali, Mohammed M. CSIC; Miccio, Luis A. CSIC ORCID; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID; Otegui, Jon CSIC; Petzold, Albrecht; Westermann, Stephanartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg20-ago-2020Localizing and quantifying the intra-monomer contributions to the glass transition temperature using artificial neural networksMiccio, Luis A. CSIC ORCID; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCIDartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2021Mapping chemical structure–glass transition temperature relationship through artificial intelligenceMiccio, Luis A. CSIC ORCID; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCIDartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2022Mapping the networked context of Copernicus, Michelangelo, and della Mirandola in wikipediaMiccio, Luis A. CSIC ORCID; Gámez-Pérez, Carlos; Suárez, Juan Luis; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCIDartículo
openAccessCAPITULOS_DE_LIBROS291027[1].pdf.jpg2010Measuring dielectric properties at the nanoscale using Electrostatic Force MicroscopyArinero, R.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDcapítulo de libro
openAccessmembraneprotection.pdf.jpg2018Membrane-containing virus particles exhibit the mechanics of a composite material for genome protectionAzinas, S.; Bano, F.; Torca, I.; Bamford, D. H.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Esnaola, J.; Oksanen, H. M.; Richter, R. P.; Abrescia, N. G.artículo
openAccesse010801.pdf.jpg2010Nanodielectric mapping of a model polystyrene-poly(vinyl acetate) blend by electrostatic force microscopyRiedel, C.; Arinero, R.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
closedAccessmay-2010Nanoscale dielectric properties of insulating thin films: From single point measurements to quantitative imagesRiedel, C.; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Arinero, R.; Tordjeman, Ph.; Lévêque, G.; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2019#NodesSchwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Bermúdez, Víctorlibro
closedAccess2011Numerical study of the lateral resolution in electrostatic force microscopy for dielectric samplesRiedel, C.; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID; Sáenz, J. J.artículo
openAccess2011On the use of electrostatic force microscopy as a quantitative subsurface characterization technique: A numerical studyRiedel, C.; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Arinero, R.; Colmenero de León, Juan CSIC ORCID; Sáenz, J. J.artículo
openAccesshttp___scitation.aip.org10.1063_1.pdf.jpg2011Positron annihilation and relaxation dynamics from dielectric spectroscopy and nuclear magnetic resonance: Cis–trans-1,4-poly(butadiene)Schwartz, Gustavo A. CSIC ORCID; Alegría, Ángel CSIC ORCID ; Arbe, Arantxa CSIC ORCID; Colmenero de León, Juan CSIC ORCIDartículo
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