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Título

Método y sistema de testado de circuitos integrados de radiofrecuencia a nivel de oblea y su uso

Autor Huertas-Díaz, J. L. ; Barragán, Manuel J.
Fecha de publicación 11-feb-2013
Citación ES2395309 A1
ResumenEl objetivo principal de este invento es proporcionar un sistema y un método fiable y rápido para descartar transceptores integrados defectuosos a nivel de oblea mediante el establecimiento de enlaces inalámbricos entre diferentes circuitos en la oblea, de tal forma que las señales necesarias para testar un determinado transceptor son proporcionadas o leídas por otro de los transceptores de la misma oblea. El sistema emplea para ello, un equipo de test digital de baja frecuencia que al menos comprende dos agujas de test para el envío, recepción y comparación de unas secuencias de datos de test que se intercambian entre el equipo de test y los circuitos integrados de la oblea.
URI http://hdl.handle.net/10261/94507
Aparece en las colecciones: (IMSE-CNM) Patentes
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