SEE characterization of the AMS 0.35 µm CMOS technology

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Título:	SEE characterization of the AMS 0.35 µm CMOS technology
Autor:	Ramos-Martos, J. CSIC; Mora-Gutiérrez, J. M. CSIC ORCID; Ragel-Morales, A. CSIC ORCID; Ceballos-Cáceres, J. CSIC ORCID; Carranza-González, L. CSIC; Sordo-Ibáñez, Samuel CSIC; Lagos-Florido, M. A. CSIC; Espejo-Meana, S. CSIC ORCID
Fecha de publicación:	sep-2013
Citación:	RADECS 2013
Resumen:	This work presents experimental results for the single-event effects characterization of a commercial (Austria Microsystems) 0.35 µm CMOS technology. It improves and expands previous results. The knowledge gained is being applied in the development of a RHBD digital library.
Descripción:	Trabajo presentado al Radiation Effects on Components and Systems celebrado en Oxford del 23 al 27 de septiembre de 2013.
URI:	http://hdl.handle.net/10261/92944
Aparece en las colecciones:	(IMSE-CNM) Comunicaciones congresos