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Título

Device for the characterisation of samples by means of x-ray dispersion or diffraction

Otros títulosDispositivo para caracterización de muestras por medio de difracción o de dispersión de rayos x
AutorPons Pons, Ramón
Fecha de publicación7-mar-2013
CitaciónWO2013030420 A1
Resumen[EN] The invention can be used for the characterisation of samples under controlled environment conditions, such as controlled temperature, pressure, humidity, or in an oxidising, inert, reducing atmosphere, etc., by means of X-ray diffraction/dispersion without requiring the use of specially-adapted sample-holders (6). The device comprises an X-ray source (2), a focusing collimator (3) and a detector (4). The device also comprises two compartments (7) under vacuum, which define a cavity (5) suitable for housing the sample, said cavity (5) being provided with sealed hermetic closure means (11, 12, 14). In addition, the device comprises environment control means (8) for controlling the environment of the sample inside the cavity (5).
[ES] Permite la caracterización de muestras sometidas a condiciones de entorno controlado, tales como humedad, presión, temperatura controladas, o atmósfera reductora, inerte, oxidante, etc. por medio de difracción/dispersión de rayos y sin necesidad de emplear portamuestras (6) especialmente adaptados. Comprende una fuente (2) de rayos x, un colimadorfocalizador (3) y un detector (4). Comprende adicionalmente dos compartimentos (7) sometidos a vacío que definen una cavidad (5) adaptada para alojar la muestra, limitada dicha cavidad (5) por unos medios de cierre (11, 12, 14) herméticos y estancos; así como unos medios de control (8) de entorno para controlar el entorno de la muestra dentro de la cavidad (5).
URIhttp://hdl.handle.net/10261/92749
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