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dc.contributor.authorSantander Vallejo, Joaquín-
dc.contributor.authorCané Ballart, Carles-
dc.contributor.authorFonseca, Luis-
dc.contributor.authorFigueras Costa, Eduard-
dc.contributor.authorGràcia Tortadès, Isabel-
dc.contributor.authorSabaté Vizcarra, María Neus-
dc.contributor.authorTorres Herrero, Nuria-
dc.contributor.authorIvanov, Peter-
dc.date.accessioned2012-09-07T11:01:52Z-
dc.date.available2012-09-07T11:01:52Z-
dc.date.issued2012-05-25-
dc.identifier.citationES2381506 A1es_ES
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10261/55814-
dc.description.abstractDispositivo y método para la determinación de características eléctricas de nanocontactos entre una nanoestructura longitudinal y una pista de metal para su conexionado. El dispositivo y método objeto de la invención permiten determinar la resistencia de contacto de un nanocontacto entre una nanoestructura longitudinal y una pista de metal para caracterizar dicho nanocontacto y poder estimar su conexionado sin dañar la nanoestructura y sin que la medición se vea afectada por la influencia de resistencias parásitas.es_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.rightsopenAccesses_ES
dc.titleDispositivo y método para la determinación de características eléctricas de nanocontactos entre una nanoestructura longitudinal y una pista de metal para su conexionadoes_ES
dc.typeSolicitud de patentees_ES
dc.description.peerreviewedPeer reviewedes_ES
dc.description.assigneeConsejo Superior de Investigaciones Científicas (España)-
dc.date.priority2009-02-10-
dc.identifier.citationapplication200900370-
dc.relation.patentfamilyES2381506 B1 (2013-05-06)-
dc.description.kindA1 Solicitud de patente con informe sobre el estado de la técnica-
Appears in Collections:(IMB-CNM) Patentes
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