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Título

Length control and sharpening of atomic force microscope carbon nanotube tips assisted by an electron beam

AutorMartínez, Javier ; Yuzvinsky, T. D.; Fennimore, A. M.; Zettl, A.; García, Rafael; Bustamante, C.
Fecha de publicación2005
EditorInstitute of Physics Publishing
CitaciónNanotechnology 16: 2493-2496 (2005)
ResumenWe report on the precise positioning of a carbon nanotube on an atomic force microscope (AFM) tip. By using a nanomanipulator inside a scanning electron microscope, an individual nanotube was retrieved from a metal foil by the AFM tip. The electron beam allows us to control the nanotube length and to sharpen its end. The performance of these tips for AFM imaging is demonstrated by improved lateral resolution of DNA molecules. © 2005 IOP Publishing Ltd.
URIhttp://hdl.handle.net/10261/50510
DOI10.1088/0957-4484/16/11/004
Identificadoresdoi: 10.1088/0957-4484/16/11/004
issn: 0957-4484
Aparece en las colecciones: (IMN-CNM) Artículos
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