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Title

Método para el análisis del índice de refracción de un medio dieléctrico adyacente a un medio plasmónico, y dispositivo correspondiente

AuthorsSepúlveda, Borja ; Regatos, David ; Armelles Reig, Gaspar ; Lechuga, Laura M. ; Fariña, David
Issue Date22-Aug-2011
CitationES2363955 A1
AbstractEl método comprende los pasos de dirigir luz desde una fuente de luz (1) hacia un medio plasmónico, para excitar una resonancia de plasmón superficial, y analizar luz proveniente de dicho medio plasmónico (4). Como fuente de luz (1) se usa un diodo láser, y se varía periódicamente la longitud de onda de la luz emitida por el diodo láser. La invención también se refiere a un dispositivo correspondiente.
URIhttp://hdl.handle.net/10261/50263
Appears in Collections:(CIN2) Patentes
(IMN-CNM) Patentes
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