Espectroscopia fotoelectrónica de Rayos-X

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Título:	Espectroscopia fotoelectrónica de Rayos-X
Autor:	Mello-Castanho, Sonia
Palabras clave:	Superficies XPS
Fecha de publicación:	1997
Editor:	Sociedad Española de Cerámica y Vidrio
Citación:	Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio. Vol. 36 Num. 4 Julio-Agosto 1997
Resumen:	Se hace una breve descripción del fundamento de las técnicas de espectroscopia electrónica y su aplicación en el estudio de superficies. Entre ellas, el trabajo se centra en la técnica de espectroscopia fotoelectrónica de rayos-X (XPS), explicándose brevemente el fundamento de la técnica y la interpretación de los espectros que se obtienen. Finalmente, se discuten algunas de sus posibles aplicaciones en el análisis de materiales cerámicos y vidrios.
Versión del editor:	http://boletines.secv.es/upload/199736425.pdf
URI:	http://hdl.handle.net/10261/49931
ISSN:	0366-3175
Aparece en las colecciones:	(ICV) Artículos