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Título: | Determinación de Tensiones Residuales Superficiales y en Capas por Difracción de RayosX |
Autor: | Steier, H. P. | Palabras clave: | difracción de rayos X tensiones residuales |
Fecha de publicación: | 1997 | Editor: | Sociedad Española de Cerámica y Vidrio | Citación: | Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio. Vol. 36 Num. 1 Enero-Febrero 1997 | Resumen: | En el presente trabajo se lleva a cabo una revisión general de la técnica de medida de tensiones residuales superficiales y en capas por difracción de rayos X. La primera parte trata de revisar los fundamentos necesarios. Se explican la dirección de medida y la profundidad de información en la difracción de rayos X para poder entender cuales son los espaciados que medimos. También se revisan las relaciones elásticas tensión-deformación para comprender como se relacionan estos espaciados al estado de tensiones presente en el material. La segunda parte suministra los detalles técnicos y los cálculos necesarios para medir bien la suma de tensiones en una superficie o bien la tensión en una dirección dada de la superficie. Finalmente se describen modificaciones para los casos especiales de capas finas y materiales texturados y se discuten algunas posibles fuentes de errores. | Versión del editor: | http://boletines.secv.es/upload/199736047.pdf | URI: | http://hdl.handle.net/10261/49895 | ISSN: | 0366-3175 |
Aparece en las colecciones: | (ICV) Artículos |
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