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dc.contributor.authorRomán García, Elisa Leonor-
dc.contributor.authorMartínez-Orellana, Lidia-
dc.contributor.authorDíaz Lagos, Mercedes-
dc.contributor.authorHuttel, Yves-
dc.date.accessioned2012-04-30T10:31:44Z-
dc.date.available2012-04-30T10:31:44Z-
dc.date.issued2011-12-09-
dc.identifier.citationES2369943 A1es_ES
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10261/49067-
dc.description.abstractLa presente invención se refiere a un procedimiento para recubrir puntas de AFM (Atomic Force Microscopy, microscopio de fuerzas atómicas) mediante el depósito de un material en forma de nanopartículas con una fuente de agregados.es_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.rightsopenAccesses_ES
dc.titleModificación de puntas de microscopía de fuerzas atómicas mediante depósito de nanopartículas con una fuente de agregadoses_ES
dc.typeSolicitud de patentees_ES
dc.description.peerreviewedPeer reviewedes_ES
dc.description.assigneeConsejo Superior de Investigaciones Científicas (España)-
dc.date.priority2010-05-13-
dc.identifier.citationapplication201030712-
dc.relation.patentfamilyES2369943 B1 (2012-10-15)-
dc.description.kindA1 Solicitud de patente con informe sobre el estado de la técnica-
Appears in Collections:(ICMM) Patentes
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