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Title

Modificación de puntas de microscopía de fuerzas atómicas mediante depósito de nanopartículas con una fuente de agregados

AuthorsRomán García, Elisa Leonor ; Martínez-Orellana, Lidia ; Díaz Lagos, Mercedes ; Huttel, Yves
Issue Date9-Dec-2011
CitationES2369943 A1
AbstractLa presente invención se refiere a un procedimiento para recubrir puntas de AFM (Atomic Force Microscopy, microscopio de fuerzas atómicas) mediante el depósito de un material en forma de nanopartículas con una fuente de agregados.
URIhttp://hdl.handle.net/10261/49067
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