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Título

Técnicas de caracterización petrológicas (I): Microscopía Óptica de Polarización (MOP) y Difracción de Rayos X (DRX)

AutorPérez-Monserrat, Elena M.
Palabras claveGeomateriales
Conservación del Patrimonio
Patrimonio cultural
Petrología
Microscopía Óptica de Polarización
Difracción de Rayos X
Fecha de publicaciónene-2012
EditorUniversidad Complutense de Madrid
CitaciónPérez Monserrat, E. M. Técnicas de caracterización petrológicas (I): Microscopía Óptica de Polarización (MOP) y Difracción de Rayos X (DRX). En: La conservación de los geomateriales utilizados en el patrimonio. Madrid : Programa Geomateriales, 2012. p. 23-30.
ResumenNo obstante, estas técnicas presentan sus limitaciones, siendo conveniente, si procede y si es posible, cotejar los resultados obtenidos tanto con la observación del material in situ y de visu como con la información aportada por otras técnicas de caracterización. Ambas técnicas están basadas en los procesos que resultan cuando el espectro electromagnético interacciona con la materia cristalina, estando muy relacionadas con el orden interno de los minerales que constituyen los materiales que configuran el patrimonio construido. Las propiedades que en gran parte condicionan la función constructiva y los procesos de deterioro de los materiales pétreos empleados en el patrimonio cultural responden a este orden interno.
DescripciónEl trabajo forma parte del material del curso de posgrado "La conservación de los geomateriales utilizados en el patrimonio", celebrado en mayo de 2011 en la sede de la Facultad de Ciencias Geológicas IGEO (CSIC-UCM).
URIhttp://hdl.handle.net/10261/46766
ISBN978-84-615-7660-9
Aparece en las colecciones: (IGEO) Libros y partes de libros
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