English   español  
Por favor, use este identificador para citar o enlazar a este item: http://hdl.handle.net/10261/43984
COMPARTIR / IMPACTO:
Estadísticas
logo share SHARE   Add this article to your Mendeley library MendeleyBASE
Visualizar otros formatos: MARC | Dublin Core | RDF | ORE | MODS | METS | DIDL
Exportar a otros formatos:
Título

La búsqueda del control a nivel nano proviene del hecho de que las cerámicas son muy sensibles a la presencia de defectos

AutorTorrecillas, Ramón ; Alonso, Adrián; Lillote, Christopher
Fecha de publicación2008
EditorPublica
CitaciónTécnica Cerámica 368: 1160-1161 (2008)
Descripción2 páginas, 1 tabla.-- Entrevista realizada al director del CINN, Prof. Ramón Torrecillas, con motivo de la celebración en Asturias del XLVIII Congreso de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio.
Versión del editorhttp://www.tecnicaceramica.com/
URIhttp://hdl.handle.net/10261/43984
ISSN0211-7290
Aparece en las colecciones: (CINN) Material de divulgación
Ficheros en este ítem:
Fichero Descripción Tamaño Formato  
Revista%20Ceramica%20Tecnica.pdf71,08 kBAdobe PDFVista previa
Visualizar/Abrir
Mostrar el registro completo
 


NOTA: Los ítems de Digital.CSIC están protegidos por copyright, con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.