English   español  
Por favor, use este identificador para citar o enlazar a este item: http://hdl.handle.net/10261/3845
Compartir / Impacto:
Estadísticas
Add this article to your Mendeley library MendeleyBASE
Ver citas en Google académico
Visualizar otros formatos: MARC | Dublin Core | RDF | ORE | MODS | METS | DIDL
Exportar otros formatos: Exportar EndNote (RIS)Exportar EndNote (RIS)Exportar EndNote (RIS)
Título : Selection of test techniques for high-resolution ΣΔ modulators
Autor : Guerra, Oscar ; Escalera, Sara ; Rosa, José M. de la ; Compaigne, Eric; Galliard, Christophe; Rodríguez-Vázquez, Ángel
Palabras clave : Test
Sigma-Delta Modulators
Fecha de publicación : nov-2000
Citación : O. Guerra, S. Escalera, J.M. de la Rosa, E. Compaigne, C. Galliard and A. Rodríguez-Vázquez: "Selection of test techniques for high-resolution ΣΔ modulators”, Proceeding of the 2004 Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, pp. 211-214, Bordeaux, November 2004.
Resumen: This paper introduces a new tool which allows the evaluation of different test techniques in a complete impartial manner. This tool has been applied to the selection of the best test technique for their application to high-resolution ΣΔ modulators. Besides, three of these techniques have been presented.
URI : http://hdl.handle.net/10261/3845
ISBN : 2-9522971-0-X
Aparece en las colecciones: (IMS-CNM) Comunicaciones congresos
Ficheros en este ítem:
Fichero Descripción Tamaño Formato  
DCIS04c.pdf210,78 kBAdobe PDFVista previa
Visualizar/Abrir
Mostrar el registro completo
 


NOTA: Los ítems de Digital.CSIC están protegidos por copyright, con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.