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Título

Mo-Based Proximity Bilayers for TES: Microstructure and Properties

AutorFàbrega, Lourdes; Fernández-Martínez, Iván ; Gil, Óscar; Parra-Borderías, María ; Camón, Agustín; Costa Krämer, José Luis ; González-Arrabal, Raquel ; Sesé Monclús, Javier ; Briones Fernández-Pola, Fernando ; Santiso, José ; Peiró, F.
Palabras claveProximity effect
Radiation detectors
Stress
Transition edge sensors
Fecha de publicaciónjun-2009
EditorInstitute of Electrical and Electronics Engineers
CitaciónIEEE Transactions on Aplied Superconductivity 19(3): 460-464 (2009)
ResumenWe report on the fabrication and characterization of Mo films, Mo/Au and Mo/Cu bilayers for Transition Edge Sensors (TES). The fabrication conditions (at room temperature) have been varied to achieve layers with the required properties for TES applications. The dependence of their functional properties (i.e. electrical resistivity and superconducting critical temperature) on microstructure (grain size, stress) is investigated.
Versión del editorhttp://dx.doi.org/10.1109/TASC.2009.2019052
URIhttp://hdl.handle.net/10261/27117
DOI10.1109/TASC.2009.2019052
ISSN1051-8223
Aparece en las colecciones: (IMN-CNM) Artículos
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