English   español  
Por favor, use este identificador para citar o enlazar a este item: http://hdl.handle.net/10261/25308
Compartir / Impacto:
Estadísticas
Add this article to your Mendeley library MendeleyBASE
Citado 53 veces en Web of Knowledge®  |  Ver citas en Google académico
Visualizar otros formatos: MARC | Dublin Core | RDF | ORE | MODS | METS | DIDL
Título

Size determination of field-induced water menisci in noncontact atomic force microscopy

AutorCalleja, Montserrat ; Tello Ruiz, Marta ; García García, Ricardo
Palabras claveAtomic force microscopy
Size measurement
Capillarity
Fecha de publicación1-nov-2002
EditorAmerican Institute of Physics
CitaciónJournal of Applied Physics 92, 5539 (2002)
ResumenWe have studied the dimensions of water capillaries formed by an applied electrical field between an atomic force microscope tip and a flat silicon surface. The lateral and vertical dimensions of the liquid meniscus are in the 5–30 nm range. The size depends on the duration and strength of the voltage pulse. It increases by increasing the voltage strength or the pulse duration. The meniscus size is deduced from the experimental measurement of the snap-off separation. These results are of special relevance to optimize local oxidation nanolithography.
Versión del editorhttp://dx.doi.org/10.1063/1.1510171
URIhttp://hdl.handle.net/10261/25308
DOI10.1063/1.1510171
ISSN0021-8979
Aparece en las colecciones: (IMN-CNM) Artículos
Ficheros en este ítem:
Fichero Descripción Tamaño Formato  
Calleja, M. et al J. Appl. Phys._92_2002.pdf104,32 kBAdobe PDFVista previa
Visualizar/Abrir
Mostrar el registro completo
 



NOTA: Los ítems de Digital.CSIC están protegidos por copyright, con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.