English   español  
Por favor, use este identificador para citar o enlazar a este item: http://hdl.handle.net/10261/25044
Compartir / Impacto:
Estadísticas
Add this article to your Mendeley library MendeleyBASE
Visualizar otros formatos: MARC | Dublin Core | RDF | ORE | MODS | METS | DIDL
Título

Theory of Q control in atomic force microscopy

AutorRodríguez, Tomás R.; García García, Ricardo
Palabras claveAtomic force microscopy
Q-factor
Fecha de publicación30-jun-2003
EditorAmerican Institute of Physics
CitaciónApplied Physics Letters 82, 4821 (2003)
ResumenWe discuss the performance of an atomic force microscope (AFM) operated in the amplitude modulation mode under a self-excitation signal, known as quality factor control (Q control). By using the point-mass description of the AFM, we provide a complete description of Q control in tapping mode AFM. The theoretical simulations show three major results: (i) the steady-state motion of the system contains contributions from homogeneous and particular components, (ii) the active response of the microcantilever can be increased or decreased depending on the phase shift of the self-excitation with respect to the instantaneous deflexion, and (iii) in general, Q enhancement reduces the maximum force exerted for the tip on the sample surface.
Versión del editorhttp://dx.doi.org/10.1063/1.1584790
URIhttp://hdl.handle.net/10261/25044
DOI10.1063/1.1584790
ISSN0003-6951
Aparece en las colecciones: (IMN-CNM) Artículos
Ficheros en este ítem:
Fichero Descripción Tamaño Formato  
Rodríguez, T.R. et al Appl.Phys.Lett._82_2003.pdf48,02 kBAdobe PDFVista previa
Visualizar/Abrir
Mostrar el registro completo
 

Artículos relacionados:


NOTA: Los ítems de Digital.CSIC están protegidos por copyright, con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.