Contribution of electron microscopy to the study of sealing processes in oxalic anodised aluminium

Abstract

[EN] Transmission electron microscopy (TEM) of anodic coatings reveals a substructure in which three regions are clearly differentiated: a very thin band at the hexagonal cell boundaries; the cell walls contaminated with anions from the anodising bath; and the hydrated alumina that fills the pores with a certain amount of retained water. Scanning electron microscopy (SEM) appears to be a highly suitable tool to observe, at the surface and at more internal levels, the structural changes associated with each sealing degree. Both types of electron microscopy allow the possibility to visualise the different stages of the very complex sealing and ageing mechanisms indirectly determined by gravimetric and electrochemical techniques.

[ES] La microscopía electrónica de transmisión (MET) de los recubrimientos anódicos revela una subestructura en la cual se diferencian claramente tres regiones: una banda muy delgada en los límites de las celdas hexagonales; las paredes de las celdas contaminadas con los aniones procedentes del baño de anodización; y la alúmina hidratada que llena los poros con una cierta cantidad de agua retenida. La microscopía electrónica de barrido (MEB) parece ser una herramienta muy adecuada para observar, tanto en la superficie como en los níveles más internos, los cambios estructurales asociados con cada grado de sellado. Ambos tipos de microscopía electrónica permiten la posibilidad de visualizar las diferentes etapas de los muy complejos mecanismos de sellado y envejecimiento indirectamente determinados por técnicas gravimétricas y electroquímicas.