English   español  
Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10261/208913
Share/Impact:
Statistics
logo share SHARE   Add this article to your Mendeley library MendeleyBASE
Visualizar otros formatos: MARC | Dublin Core | RDF | ORE | MODS | METS | DIDL
Exportar a otros formatos:

Title

Caracterización de la Difracción de Rayos X a la Caracterización de Materiales Cristalinos

AuthorsJiménez, José Antonio
KeywordsDifracción de Rayos-X
Materiales policristalinos
Caracterización de materiales
Issue Date16-Jan-2019
AbstractLa Difracción de Rayos X constituye una herramienta básica para la caracterización de materiales cristalinos ya que, frente a otras técnicas analíticas, permite determinar las fases cristalinas que presenta un material y establecer la forma alotrópica bajo la que se presenta una sustancia. Este curso se ha enfocado como una guía básica del uso de la difracción de Rayos X para la caracterización de materiales cristalinos y no como una introducción teórica sobre la difracción de Rayos X.
DescriptionUniversidad de Concepción (Chile) - Curso de Postgrado
URIhttp://hdl.handle.net/10261/208913
Appears in Collections:(CENIM) Cursos-Material didáctico
Files in This Item:
File Description SizeFormat 
accesoRestringido.pdf15,38 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record
Review this work
 


WARNING: Items in Digital.CSIC are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.