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http://hdl.handle.net/10261/183030
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Título: | Magnetic Force Microscopy (MFM) probes by FEBID and their application |
Autor: | Pablo-Navarro, Javier CSIC ORCID; Magén, César ; Berganza, Eider CSIC ORCID; Jaafar, Miriam CSIC ORCID; Asenjo Barahona, Agustina CSIC ORCID ; Teresa, José María de CSIC ORCID | Fecha de publicación: | 2018 | Citación: | FEBIP 2018 | Descripción: | Resumen del trabajo presentado al 7th International Workshop on Focused Electron Beam-Induced (FEBIP), celebrado en Modena (Italia) del 10 al 13 de julio de 2018. | URI: | http://hdl.handle.net/10261/183030 |
Aparece en las colecciones: | (ICMA) Comunicaciones congresos (ICMM) Comunicaciones congresos |
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