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Comparing optical to digital metrics: what is the optimal defocus in a rotationally summetric system?

AutorPortilla, Javier ; Barbero, Sergio
Fecha de publicación20-sep-2017
EditorInstitute of Electrical and Electronics Engineers
CitaciónICIP (2017)
Descripción2017 IEEE International Conference on Image Processing, China National Convention Center in Beijing, China, 17-20 September 2017. -- http://2017.ieeeicip.org/
URIhttp://hdl.handle.net/10261/167705
Aparece en las colecciones: (CFMAC-IO) Comunicaciones congresos
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