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Título

Las microscopías electroquímicas: Nuevas dimensiones accesibles en Ciencia de los Materiales

AutorSouto, Ricardo Manuel
Palabras claveScanning probe microscopy
electroquímica
Metales
Fecha de publicación3-jul-2018
ResumenLas técnicas de microscopía de barrido de sonda (SPM, por las siglas de su denominación en inglés, Scanning Probe Microscopy) han encontrado un ámbito muy propicio como nuevas técnicas analíticas especialmente adecuadas para la investigación localizada de las propiedades químicas, físicas o eléctricas de los materiales, y para la creación de materiales artificiales en la microescala y la nanoescala. El principio general de las SPM es el empleo de una punta afilada que actúa como sonda y se desplaza a pequeña distancia de una superficie para obtener información, con resolución espacial, acerca de su naturaleza topográfica, química y física. Aunque comparten este concepto general, las técnicas que agrupa esta denominación son muy diversas entre sí, pues la naturaleza de la interacción específica que se produce entre la sonda y la superficie es la que determina la operación y diseño instrumentales. En este Seminario se presentarán diferentes técnicas de microscopía de barrido de sonda y se mostrarán ejemplos sobre sus posibilidades y limitaciones en el estudio micro electroquímico de metales en medio acuoso.
DescripciónSeminarios del CENIM
URIhttp://hdl.handle.net/10261/167115
Aparece en las colecciones: (CENIM) Cursos-Material didáctico

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